首页
产品中心
半导体环境应力可靠性
快速温变试验箱
HAST
PCT
罩杯精密温度控制系统
超低温试验箱
可靠性物理及失效分析
器件开封机
显微镜
超声波扫描显微镜
工业X光检测
热发射显微镜系统
微光发射显微镜
阻抗变化测试系统OBIRC
半导体结构封装可靠性
可焊性测试仪
剪切拉力机
耐焊接热测试系统
线束瞬断测试仪
继电器抖动测试仪
ORS 水汽检漏测试系统
振动脉动信号处理系统
恒加速度试验机
颗粒噪声碰撞（PIND）
高温传感器
半导体电性能测试系统
半导体器件参数分析仪
晶体管特性图示仪
功率半导体测试系统
石英晶体自动化测试系统
共模瞬态抗扰度测试仪
半导体低频噪声测试系统
半导体射频电性能系统
静电放电测试系统
TLP测试系统
IC-EMC
通用电子测试测量系统
示波器
分析仪
信号发生器
电源
仪表
电磁兼容测试系统
静电放电测试系统
汽车瞬态测试系统
工科医瞬态测试系统
射频传导抗扰度
谐波闪烁测试系统
发射类测试系统
辐射抗扰度测试系统
芯片EMC测试系统
汽车电子高压电性能测试系统
军品测试系统
系统测试及校准
解决方案
EMC电磁兼容测试系统集成
汽车电子低压电性能集成解决方案
汽车电子高压电性能集成解决方案
航空电源GIB 181/D0160测试系统方案
开关电源自动化测试系统
服务与支持
定制化测试服务
售后维修
定制化集成
关于我们
岑航科技简介
技术专题
联系我们
产品中心
Product Center
—
PIND-4511L-R
颗粒噪声碰撞（PIND）
市场价:
0.00
价格:
0.00
<p style="line-height: 1.75em;">PIND以无损方式，采用高频声波检测封装的电子元器件内腔是否有松散颗粒。这类高可靠性要求的电子元器件包括继电器、晶体管、混合元件、芯片以及开关等。自由粒子可能导致运行中的系统出现电路短路和功能失效。<br/><br/>使用振动台作为线性马达来激发自由粒子在元件空腔内动起来。当粒子撞击空腔封盖时，微粒的部分动能（1/2MV2）将转化为宽带声波并通过封盖、粘胶传导至冲击传感器罩板的上表面，传感器内敏感的超声波检测晶体单元/或多个晶体单元检测到声压并将其转化为电信号。为了让粒子继续运动，需要一个准确的冲击，这种冲击可以由电脑控制从振动台内部发出，同时传感器的信号也得到监测。</p>
共 1 条记录
1
半导体结构封装
可靠性
可焊性测试仪
剪切拉力机
耐焊接热测试系统
线束瞬断测试仪
继电器抖动测试仪
ORS 水汽检漏测试系统
振动脉动信号处理系统
恒加速度试验机
颗粒噪声碰撞（PIND）
高温传感器
35
