上海岑航科技发展有限公司-半导体电性能测试系统

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低磁导率测试系统

半导体射频电性能系统

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<p><span style="font-family:'微软雅黑',sans-serif;color:#5A5A5A">●满足GJB 1217A 方法3006要求<br/> ● 用于磁场强度绝对值及梯度值测量的探头</span></p><p style=";font-variant-ligatures: normal;font-variant-caps: normal;orphans: 2;text-align:start;widows: 2;-webkit-text-stroke-width: 0px;word-spacing:0px"><span style="font-family:'微软雅黑',sans-serif;color:#5A5A5A">● 相对磁导率μr测量的探头符合IEC 60404-15和 ASTM A342M标准</span></p><p style=";font-variant-ligatures: normal;font-variant-caps: normal;orphans: 2;text-align:start;widows: 2;-webkit-text-stroke-width: 0px;word-spacing:0px"><span style="font-family:'微软雅黑',sans-serif;color:#5A5A5A">● 峰值监测及存储</span></p><p style=";font-variant-ligatures: normal;font-variant-caps: normal;orphans: 2;text-align:start;widows: 2;-webkit-text-stroke-width: 0px;word-spacing:0px"><span style="font-family:'微软雅黑',sans-serif;color:#5A5A5A">● 门限值可调</span></p><p style=";font-variant-ligatures: normal;font-variant-caps: normal;orphans: 2;text-align:start;widows: 2;-webkit-text-stroke-width: 0px;word-spacing:0px"><span style="font-family:'微软雅黑',sans-serif;color:#5A5A5A">● 电池或电源操作</span></p><p style=";font-variant-ligatures: normal;font-variant-caps: normal;orphans: 2;text-align:start;widows: 2;-webkit-text-stroke-width: 0px;word-spacing:0px"><span style="font-family:'微软雅黑',sans-serif;color:#5A5A5A">● PC软件用于数据分析和报告生成</span></p><p><br/></p>

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半导体电性能测试系统

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