产品中心
Product Center
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●满足GJB 1217A 方法3006要求
● 用于磁场强度绝对值及梯度值测量的探头
● 相对磁导率μr测量的探头符合IEC 60404-15和 ASTM A342M标准
● 峰值监测及存储
● 门限值可调
● 电池或电源操作
● PC软件用于数据分析和报告生成
●满足GJB 1217A 方法3006要求
● 用于磁场强度绝对值及梯度值测量的探头
● 相对磁导率μr测量的探头符合IEC 60404-15和 ASTM A342M标准
● 峰值监测及存储
● 门限值可调
● 电池或电源操作
● PC软件用于数据分析和报告生成
● 磁通门探头(绝对或梯度测量)
● 霍尔探头(绝对测量)
● 对磁环境条件进行长期监测,比如对磁性敏感装置安装前的监测如MRI核磁共振成像系统
● 对弱磁材料及机加工零件的剩磁检测
● 对钢棒和零部件的退磁状态的检测
● 对奥氏体钢和非铁合金材料的铁磁杂质的检测
● 对磨损敏感部件比如轴承的夹杂物的表面检测
● 对奥氏体钢和弱磁、无磁合金的相对磁导率测量的质量检测
● 由于渗碳、腐蚀、涂层减少或微观结构改变,对材料进行磁导率对比测量验证材料变化
● 仪器及探头是经过校验的,并附带校验证书。装置及校准参数存储在各自的组件里。
● 测量仪器与探头连接时,自动识别探头。
半导体电性能测试系统