产品中心
Product Center
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H-9200A 晶体振荡器高低温测试系统主要用来对晶体振荡器在不同温度点下的各项性能参数如频率(Fr)、电流(I)、上升时间(Tr)、下降时间(Tf),占空比(DC)等进行测量。基于 Windows操作系统的控制软件,通过以太网接口控制程控电源、频率计、DMM、示波器等仪表,来实现自动控制测量过程。测量完成后,软件可以根据设定的合格范围来判断产品是否合格,并可以绘制晶体谐振器的频率/温度拟合曲线。
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H-9100A 晶体高低温测试系统主要用来对晶体谐振器在不同温度点下的各项性能参数如频率(Fr 或 FL)、电阻(Rr)、动态电感 (L1)、动态电容(C1)等进行测量。基于Windows 操作系统的控制软件,全自动控制整个测试过程。测量完成后,软件可以根据设定的合格范围来判断晶体是否合格,并可以绘制晶体谐振器的频率/温度拟合曲线。
半导体电性能测试系统