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TLP测试系统
TLP测试系统
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<p>● 用于获取器件保护电路的相关参数特性</p><p>● 为器件升级提供支持，缩短产品周期</p><p>● 提供普通和VF（非常快）型号。VF模型提供正常（100ns / 200ns）和VF（1ns）脉冲宽度</p><p>● 具有半自动探针台整合功能的可选自动测试可大大提高生产率</p><p>● 可与HED-W5000，ESD（HBM，MM）测试仪结合使用现在提供大电流输出型号（T5000-HC）</p><p>● 此设备配备了先进的测试模式</p><p>● 具备印加脉冲宽度为100ns/200ns的normal TLP测试与宽度到1ns的VF-TLP(Very Fast TLP)测试模式</p><p>● 有助于验证HBM/CDM模式的测试</p><p>● 对于器件管脚的入射波和器件管脚发出的反射波，都可在示波器上确认到</p><p>● 此数据会自动保存，并在专用的显示软件上表示</p><p>● 专用显示软件可对入射波/反射波的合计值，snapback特性以及漏电流测试的电流值进行图形描绘</p><p>● 被保存的示波器上的数据可以进行高自由度的演算处理</p><p>● 比如，对于不同工艺的晶体管的ON电压及可以加在保护电路上的最大电流值等，可以通过曲线的重叠描绘来确认其差异</p><p>● 并且可以与半自动探针台连接，实现TLP测试的自动化</p><p>● 由于可以在Wafer level上进行印加管脚间或芯片间的自动移位，所以能够很大地提升测试效率</p>
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半导体电性能测试系统
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