上海崇阿电子科技有限公司-半导体电性能测试系统

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TLP测试系统

TLP测试系统

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● 用于获取器件保护电路的相关参数特性● 为器件升级提供支持，缩短产品周期● 提供普通和VF（非常快）型号。VF模型提供正常（100ns / 200ns）和VF（1ns）脉冲宽度● 具有半自动探针台整合功能的可选自动测试可大大提高生产率● 可与HED-W5000，ESD（HBM，MM）测试仪结合使用现在提供大电流输出型号（T5000-HC）● 此设备配备了先进的测试模式● 具备印加脉冲宽度为100ns/200ns的normal TLP测试与宽度到1ns的VF-TLP(Very Fast TLP)测试模式● 有助于验证HBM/CDM模式的测试● 对于器件管脚的入射波和器件管脚发出的反射波，都可在示波器上确认到● 此数据会自动保存，并在专用的显示软件上表示● 专用显示软件可对入射波/反射波的合计值，snapback特性以及漏电流测试的电流值进行图形描绘● 被保存的示波器上的数据可以进行高自由度的演算处理● 比如，对于不同工艺的晶体管的ON电压及可以加在保护电路上的最大电流值等，可以通过曲线的重叠描绘来确认其差异● 并且可以与半自动探针台连接，实现TLP测试的自动化● 由于可以在Wafer level上进行印加管脚间或芯片间的自动移位，所以能够很大地提升测试效率
HED-C5000

静电放电测试系统

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ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量保证都是必不可少的。● 满足JS-002，JEDEC，ESDA，AEC等全球CDM模型测试规范● 测试电压最高可达4KV，为同类型机台最高● 供应商为JS-002规格制定委员会成员，技术可靠● 硬件软件的使用操作简单，容易上手，为全球半导体Leading company的推荐使用机型● 唯一具有D-AEC充放电功能的CDM测试机台
HED-N5000

静电放电测试系统

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● 静电放电测试系统（HBM、MM、Latch Up）● 最大可进行8个器件的测试。最大测试管脚数1024Pin● 虽然有一定的限制，但是可以复数同时印加● 是满足日本、国际规格的高可靠性设备、(满足JEITA/ESDA/JEDEC规格) 可用于闩锁测试，并适用脉冲电流法·电源过电压·ESD印加法● 也可通过DC测试判断pass/fail，以及作为可添加选项，可以利用向量来进行功能测试
HCE-5000

静电放电测试系统

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● 超紧凑型便携式ESD测试机（HBM，MM，HMM）测试仪；● 独立的测试系统，携带方便，空间占用率小，性价比高；● 不用搭配其他PC或Curve tracer便可独立完成HBM、MM和漏电测试；● 适用于现场测试。配有曲线跟踪器，用于通过/失败判断，推荐给IC制造商和最终用户。
共模瞬态抗扰度测试仪

共模瞬态抗扰度测试仪

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H-9200B

石英晶体自动化测试系统

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H-9200A 晶体振荡器高低温测试系统主要用来对晶体振荡器在不同温度点下的各项性能参数如频率(Fr)、电流（I）、上升时间（Tr）、下降时间(Tf)，占空比(DC)等进行测量。基于 Windows操作系统的控制软件，通过以太网接口控制程控电源、频率计、DMM、示波器等仪表，来实现自动控制测量过程。测量完成后，软件可以根据设定的合格范围来判断产品是否合格，并可以绘制晶体谐振器的频率/温度拟合曲线。
H-9100A

石英晶体自动化测试系统

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H-9100A 晶体高低温测试系统主要用来对晶体谐振器在不同温度点下的各项性能参数如频率(Fr 或 FL)、电阻(Rr)、动态电感 (L1)、动态电容(C1)等进行测量。基于Windows 操作系统的控制软件，全自动控制整个测试过程。测量完成后，软件可以根据设定的合格范围来判断晶体是否合格，并可以绘制晶体谐振器的频率/温度拟合曲线。
共模瞬态抗扰度(CMTI)测试系统

共模瞬态抗扰度测试仪

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<ul style="box-sizing: border-box; line-height: 1; padding: 0px; color: rgb(51, 51, 51); font-family: Arial, 微软雅黑; font-size: 14px; white-space: normal; background-color: rgb(255, 255, 255);" class=" list-paddingleft-2"><li>可调电压幅值高达3kV</li><li>阶梯模式多达14种固定斜坡速率可选择。</li><li>50欧姆负载可达3.12~1600kV/us CMTI测试</li><li>高阻抗负载可达6.25~3200kV/us CMTI测试</li><li>简易方便的触摸屏式人机操作界面</li><li>可选配50欧姆终端指数衰减形状脉冲模块</li></ul>
低磁导率测试系统

半导体射频电性能系统

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●满足GJB 1217A 方法3006要求 ● 用于磁场强度绝对值及梯度值测量的探头● 相对磁导率μr测量的探头符合IEC 60404-15和 ASTM A342M标准● 峰值监测及存储● 门限值可调● 电池或电源操作● PC软件用于数据分析和报告生成

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半导体电性能测试系统

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