上海崇阿电子科技有限公司-半导体电性能测试系统

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HED-C5000

静电放电测试系统

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ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量保证都是必不可少的。● 满足JS-002，JEDEC，ESDA，AEC等全球CDM模型测试规范● 测试电压最高可达4KV，为同类型机台最高● 供应商为JS-002规格制定委员会成员，技术可靠● 硬件软件的使用操作简单，容易上手，为全球半导体Leading company的推荐使用机型● 唯一具有D-AEC充放电功能的CDM测试机台
HED-N5000

静电放电测试系统

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● 静电放电测试系统（HBM、MM、Latch Up）● 最大可进行8个器件的测试。最大测试管脚数1024Pin● 虽然有一定的限制，但是可以复数同时印加● 是满足日本、国际规格的高可靠性设备、(满足JEITA/ESDA/JEDEC规格) 可用于闩锁测试，并适用脉冲电流法·电源过电压·ESD印加法● 也可通过DC测试判断pass/fail，以及作为可添加选项，可以利用向量来进行功能测试
HCE-5000

静电放电测试系统

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● 超紧凑型便携式ESD测试机（HBM，MM，HMM）测试仪；● 独立的测试系统，携带方便，空间占用率小，性价比高；● 不用搭配其他PC或Curve tracer便可独立完成HBM、MM和漏电测试；● 适用于现场测试。配有曲线跟踪器，用于通过/失败判断，推荐给IC制造商和最终用户。
MK.4TE测试系统

静电放电测试系统

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MK.4TE ESD 和闩锁测试系统是一个完整、可靠并且功能丰富的全方位仪器测试封装，可对具有高达 2304 个引脚的器件执行自动和手动 HBM、MM 和闩锁测试。其特点是具有最快的测试执行速度、最低的切换间隔和大规模并行运行，可实现并发切换，并具有交叉描记测试功能，符合全球和公司质量标准。
MK.2TE测试系统

静电放电测试系统

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MK.2TE测试系统是一种基于继电器的超快ESD和静态闩锁测试系统，用于评估高级IC器件。它完全符合当今的JEDEC/ESDA标准，并可以配置为具有128、256、384或768个测试引脚。• 波形网络：8位置HBM脉冲源• 符合行业标准的人体模型 (HBM) 和机器模型 (MM) 测试• 符合现行JEDEC EIA/JESD 78 方法的闩锁测试• 借助预调节选件可以使用复杂测试和矢量模式使 DUT 矢量化，以实现出色的控制• 高度可重复、可重现的测试数据• 增强的数据集功能• 高电压电源箱• 电源定序• 事件触发器输出• 全面的工程矢量调试• 可使用Thermo Scientific™ Scimitar™软件平台进行直观的设置和操作

共 5 条记录1

半导体电性能测试系统

半导体环境应力可靠性

可靠性物理及失效分析

半导体结构封装可靠性

半导体电性能测试系统

通用电子测试测量系统

电磁兼容测试系统