产品中心
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MK.2TE测试系统是一种基于继电器的超快ESD和静态闩锁测试系统,用于评估高级IC器件。它完全符合当今的JEDEC/ESDA标准,并可以配置为具有128、256、384或768个测试引脚。
• 波形网络:8位置HBM脉冲源
• 符合行业标准的人体模型 (HBM) 和机器模型 (MM) 测试
• 符合现行JEDEC EIA/JESD 78 方法的闩锁测试
• 借助预调节选件可以使用复杂测试和矢量模式使 DUT 矢量化,以实现出色的控制
• 高度可重复、可重现的测试数据
• 增强的数据集功能
• 高电压电源箱
• 电源定序
• 事件触发器输出
• 全面的工程矢量调试
• 可使用Thermo Scientific™ Scimitar™软件平台进行直观的设置和操作
MK.2TE测试系统是一种基于继电器的超快ESD和静态闩锁测试系统,用于评估高级IC器件。它完全符合当今的JEDEC/ESDA标准,并可以配置为具有128、256、384或768个测试引脚。
• 波形网络:8位置HBM脉冲源
• 符合行业标准的人体模型 (HBM) 和机器模型 (MM) 测试
• 符合现行JEDEC EIA/JESD 78 方法的闩锁测试
• 借助预调节选件可以使用复杂测试和矢量模式使 DUT 矢量化,以实现出色的控制
• 高度可重复、可重现的测试数据
• 增强的数据集功能
• 高电压电源箱
• 电源定序
• 事件触发器输出
• 全面的工程矢量调试
• 可使用Thermo Scientific™ Scimitar™软件平台进行直观的设置和操作
Thermo Scientific™ MK.2TE™ ESD和闩锁测试系统为用户提供高级功能,用于按照当今的人体模型(HBM)和机器模型(MM)ESD 标准测试高引脚数器件。系统的脉冲传输设计确保能够克服标准中说明的危险,例如后沿脉冲和预放电电压上升。实践证明,后沿脉冲可在主HBM事件后使DUT电过载,从而导致非ESD相关的故障。预放电电压可导致电压触发保护结构失效,因为HBM事件发生时,接受测试的引脚的电压可能不是零伏特。可以在脉冲持续期间连接一个用户可选的10K分流器,在实际HBM事件之前消除任何电压。MK.2TE测试系统组合还可按照JEDEC JESD 78方法执行闩锁测试。它的增强数据集功能使用灵活,可满足当今片上系统设计的测试需求。
基于 Windows® 的 MK.2TE Scimitar 软件直观而且全面。可以快速设置测试,并且用户培训要求极低。
通过在测试固定板附近放置多个放电网络,可以在每个引脚处使不需要的杂散电感和电容保持在最低水平。这可在测试中确保出色的波形质量并得到易于复现的测试数据。
功能强大、运行速度极快的嵌入式 VME 控制器推动实现了可行的最高测试执行速度。嵌入式控制器与测试仪的PC服务器之间的数据传输通过TCP/IP通信协议进行处理,最大限度地缩短了数据传输时间。可以通过内部网络访问测试仪的PC服务器,也可以通过Internet进行访问,从而可以远程访问系统以确定系统的状态或收集结果信息。
MK.2TE测试系统采用灵活的模块化设计,并提供了在公司或行业标准发生变化的情况下可以让您在现场进行升级的选件。选件包括额外的引脚、V/I 电源、高速矢量化功能和测试功能。
体验与部件可靠性ESD和静态闩锁测试领域内的公认专家合作的众多优势。我们的目标是为您提供终身服务支持 — 从应用支持、校准服务、服务合同和现场服务安排到全面现场技术支持。我们可以帮助您实现更高水平的成功。
1、摘要面板,可以在测试计划和器件计划组成部分之间轻松导航
2、关于多步骤用户操作的向导式提示
3、通过使用 Scimitar 的用户可编程插件功能,不但可以控制外部器件,还可以控制事件触发器输出,后者为外部器件(例如电源)提供 TTL 控制信号或提供用于触发示波器的控制信号
4、可以在可执行测试计划内的任意位置定义并布置灵活的参数式测试
5、提供以下功能的综合结果查看器:
● ESD 和静态闩锁数据查看功能
● 具有缩放功能并可以添加用户注释的曲线查看器
● 按以下标准进行数据过滤:失败的引脚、失败的结果、最终应力水平
● 使用用户定义参数的完整结果集合或子集
● 按各种列标准进行升序或降序排序
6、测试和测试计划的树形逻辑视图
7、灵活的数据存储,可以让最终用户查询数据
8、无缝支持现有的 ZapMaster、MK.2、MK.4 和 Paragon 测试计划
9、通过曲线对曲线和相对点对点对比进行曲线描记
10、脱机曲线分析,包括第三方生成的波形
11、可以自动定义的现成 JESD78A 测试(仅限静态闩锁)
12、暂停/ 恢复测试功能
13、中间结果查看
14、通过嵌入式 EvaluWave 软件功能实现自动波形捕获功能和分析
15、通过曲线对曲线和相对点对点对比进行曲线描记
16、暂停/ 恢复测试功能
17、对最新 JS-001 测试标准组合的全面支持
18、使用符合标准测试模型的脉冲诱发闩锁条件的功能(TLU 测试类型)
19、对第三方仪器的仪器支持 — 示波器、源 — 测量计单元、电源、热流等
20、逼真演示接受测试的封装。提供各种用于将轮廓导入到新测试计划或现有测试计划的源
21、各种器件和结果数据可视化工具;全面的波形和统计数据分析工具
半导体环境应力
可靠性